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由于大型計算機(jī)的出現(xiàn)，1980年代ST IC芯片需要高性能D-RAM時，日本公司名列前茅。  st意法的IC芯片故障分析介紹，可以按照國際、國內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測，從底層芯片到實際產(chǎn)品，從物理到邏輯進(jìn)行全面檢測。st意法提供芯片預(yù)處理和并行測試。 通道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、輻射注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性、多點激光注入等安全檢測服務(wù)。